JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (presidente y director de operaciones: Izumi Oi) ha anunciado que ha desarrollado las versiones (i)/(is) de semi-lente, óptimas para la observación de dispositivos semiconductores del microscopio electrónico de emisión de campo Schottky JSM-IT800 (lanzado en mayo de 2020), y ha iniciado su comercialización en agosto de 2021.

Antecedentes del desarrollo

Programa Practico de Estrategias de Inversión y Trading
Aprende a invertir con nuestro curso más completo
Aprende a invertir con nuestro curso más completo

Los microscopios electrónicos de barrido (scanning electron microscopes o SEM) se utilizan en una amplia gama de campos, como la nanotecnología, los metales, los semiconductores, la cerámica, la medicina y la biología. Dado que las aplicaciones de los microscopios electrónicos de barrido se están ampliando para abarcar no sólo la investigación y el desarrollo, sino también el control de calidad y la inspección de productos en los centros de fabricación, sus usuarios requieren una adquisición de datos rápida y de alta calidad, así como una simple confirmación de la información sobre la composición con un funcionamiento analítico perfecto.

"El comunicado en el idioma original es la versión oficial y autorizada del mismo. Esta traducción es solamente un medio de ayuda y deberá ser comparada con el texto en idioma original, que es la única versión del texto que tendrá validez legal".

- Business Wire